RSS
Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий в производстве электронной аппаратуры"
Уважаемые коллеги!
Мы рады пригласить Вас на семинар "Анализ отказов комплектующих изделий в производстве электронной аппаратуры", который состоится 27 февраля 2014 года в Москве.
Место проведения семинара: гостиничный комплекс "Измайлово-Альфа", Измайловское шоссе, 71 А.
Докладчики семинара:
- Баландин Василий Моисеевич, начальник аналитического бюро службы качества ОТК, ОАО "ОмПО "Иртыш".
- Rudi Kaufmann, технический эксперт по работе с информационными базами по электронным компонентам, IHS Global Limited.
- Акулин Александр Игоревич, технический директор PCB Technology.
План семинара:
10.00-11.30. Секция 1. Проблемы анализа отказов, подходы к решению
1. Проблемы анализа качества и причин отказов КИ
a. Требования к анализу отказов КИ, основные проблемы анализа КИ
b. Выработка оптимальных методов и алгоритмов анализа
2. Аналитическое подразделение службы качества
a. Место в структуре организации, подчиненность. Состав, требования к сотрудникам
b. Техническая оснащенность
c. Положение о подразделении. Стандарт организации по анализу отказов ПКИ
d. Взаимодействие с другими подразделениями организации
3. Методы анализа, рекомендации по их применению в работе служб снабжения и качества
a. Визуально-оптический метод. Тестовые методы, метод «прозвонки». Рентгеноскопический метод. Статистические методы. Прочие методы
11.30-12.00. Кофе-брейк
12.00-13.30. Секция 2. Практический опыт анализа качества и причин отказов КИ
1. Особенности анализа отдельных типов и групп КИ
a. Отечественные и импортные комплектующие. Резисторы. Конденсаторы. Индуктивные элементы. Магнитные сердечники. Диоды. Транзисторы. Микросхемы. Коммутирующие устройства. Прочие комплектующие изделия и материалы.
2. Проблема контрафактных комплектующих
a. Причины появления контрафактных комплектующих в закупках
b. Признаки контрафактных КИ. Анализ примеров выявленного контрафакта.
c. Профилактические действия против проникновения поддельных КИ в производство
13.30-14.30. Обед
14.30-16.30. Секция 3. Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.
1. Структура базы данных комплектующих изделий. База данных отказов и документов
2. Глобальные IT системы по выбору комплектующих и предупреждению контрафакта
3. Организация сквозного учета комплектующих от разработки до производства в информационной системе предприятия
16.30-17.00. Кофе-брейк
17.00-18.00. Секция 4. Обработка и использование результатов анализа
1. Обработка результатов, полученных из базы данных отказов комплектующих изделий
a. Классификация отказов комплектующих
b. Результирующие документы. Выработка корректирующих действий. Проверка исполнения
2. Оценка и отбор поставщиков КИ
a. Основные требования к поставщикам КИ. Стандарт организации по закупкам
b. Реестры поставщиков, практическая классификация поставщиков
Для участия, пожалуйста, заполните бланк заявки и направьте его по адресу seminar@sovel.org.
Задать вопросы можно по телефону (495)280-04-19.
