Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

Уважаемые коллеги!

Мы рады пригласить Вас на семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры", который состоится 11 сентября 2014 в Санкт-Петербурге.

Место проведения семинара: г. Санкт-Петербург, КЦ "ПетроКонгресс", ул. Лодейнопольская, 5 (ст. метро "Чкаловская").

Время проведения: 10.00 - 18.00, с 09.00 до 10.00 регистрация участников

Бланк заявки

Программа семинара

Схема проезда

Докладчики семинара:

• Баландин Василий Моисеевич, начальник аналитического бюро службы качества ОТК, ОАО "ОмПО "Иртыш".
• Какшинский Алексей Леонидович, генеральный директор "Эталон-Автоматизация"

План семинара:

10.00-11.30        Секция 1.

1. Принципиальные подходы к анализу качества и причин отказов комплектующих изделий.

• Аналитическая составляющая инженерной деятельности.
• Требования к анализу отказов комплектующих изделий.
• Основные проблемы анализа комплектующих изделий.
• Выработка оптимальных методов и алгоритмов анализа.

2. Аналитическое подразделение службы качества.

• Место в структуре организации.
• Основные задачи, состав, требования к сотрудникам.
• Техническая оснащенность.
• Положение о подразделении. Стандарт организации по анализу отказов комплектующих изделий.

3. Методы анализа комплектующих изделий.

• Визуально-оптический метод.
• Тестовые методы. Структурный и функциональный анализы.
• Рентгеноскопический метод.
• Статистические методы.

11.30-12.00        Кофе-брейк.

12.00-13.30        Секция 2.

4. Особенности анализа отдельных типов и групп комплектующих изделий.

• Отечественные комплектующие изделия в целом.
• Импортные комплектующие изделия в целом.
• Резисторы.
• Конденсаторы.
• Индуктивные элементы. Магнитные сердечники.
• Диоды.
• Транзисторы.
• Микросхемы.
• Коммутирующие устройства.
• Прочие комплектующие изделия.

5. Проблема контрафакта (поддельных комплектующих изделий).

• Причины появления поддельных комплектующих изделий.
• Признаки поддельных комплектующих изделий.
• Практические примеры выявленных поддельных комплектующих изделий.
• Профилактические действия против проникновения поддельных комплектующих изделий в производство.

13.30-14.30  Обед.

14.30-16.30 Секция 3.

6. Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.

• Структура базы данных отказавших комплектующих изделий.
• Требования к данным о компонентах, поставщиках, результатам анализа.
• Порядок ввода информации в базу данных, повышение достоверности и целостности данных.
• Примеры регистрации отказов в базе данных.
• Организация отраслевой базы данных для регистрации отказов комплектующих изделий и выявления контрафакта.
• Демонстрация промо-версии отраслевой базы данных и ПО для мониторинга случаев поставок контрафактных и некачественных компонентов.

16.30-17.00  Кофе-брейк.

17.00-18.00 Секция 4.

7. Обработка и использование результатов анализа отказов комплектующих изделий.

• Обработка результатов, полученных из электронной базы отказов комплектующих изделий.
• Классификация отказов комплектующих изделий.
• Результирующие документы. Выработка корректирующих действий.
• Проверка исполнения.

8. Оценка и отбор поставщиков комплектующих изделий.

• Основные требования к поставщикам комплектующих изделий.
• Стандарт организации по закупкам комплектующих изделий и проведения работы с ними.
• Реестры поставщиков.
• Практическая классификация поставщиков.

Для участия, пожалуйста, заполните бланк заявки и направьте его по адресу seminar@sovel.org.

Задать вопросы можно по телефону (495)280-04-19.